X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結構，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎，結合國外相關新的技術發(fā)展成果，研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型X熒光光譜儀，這款儀器的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到較高水平。

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。

儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
良好的數(shù)字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術參數(shù)

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術，快速分析，高計數(shù)率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動
數(shù)字多道技術：計數(shù)率>50kcps，有效計數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術，其線性計數(shù)率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數(shù)率，大大提高了設備的穩(wěn)定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業(yè)軟件，良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動感應，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

應用領域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。

技術原理

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關，其數(shù)學關系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數(shù)。
而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產ROHS測試儀，X射線測厚儀，電鍍層測厚儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀，LCMS，手持式合金分析儀，銅金成分分析儀器等。

天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產、銷售和相關技術服務，是國內在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產品主要應用于環(huán)境保護與安全（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。