x光鍍層測厚儀Thick8000技術參數

元素分析范圍：S-U

含量分析范圍：PPM-99％

電壓：220V正負5V

測試平臺：三維維樣品移動平臺

探測器：SDD探測器

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

x光鍍層測厚儀Thick8000工作原理

當輻射撞擊在比例器后，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。

應用領域

汽車配件

五金工具

線路板

半導體框架

汽車空調設備

端子連接器

衛浴、首飾等。

廠家介紹

天瑞儀器是X光鍍層測厚儀國內早生產廠家，分析儀器上市企業，行業內銷量國內，產品的性能*可以和國外對比，售后服務優于國外，維護成本低，是一款性價比*的產品。